钨酸光电子能谱
钨酸光电子能谱（XPS）是一种表面化学分析技术，用于测定钨酸中元素构成、实验式，以及其中所含钨元素的化学态和电子态的定量能谱技术。通过X射线照射钨酸，同时测量从钨酸表面以下1纳米到10纳米范围内移除电子的动能和数量，从而得到X射线光电子能谱。X射线光电子能谱技术的环境要求十分苛刻，需要在超高真空环境中进行。
光电子能谱是利用光电效应的原理测量单色辐射从样品上打出来的光电子的动能（并由此测定其结合能）、光电子强度和这些电子的角分布，并应用这些信息来研究原子、分子、凝聚相，尤其是固体表面的电子结构的技术。
XPS的原理是用X射线去辐射样品，使原子或分子的内层电子或价电子受激发射出来。被光子激发出来的电子称为光电子。可以测量光电子的能量，以光电子的动能（束缚能，binding energy，Eb=hv光能量-Ek动能-w功函数）为横坐标，相对强度（脉冲/s）为纵坐标可做出光电子能谱图，从而获得试样有关信息。X射线光电子能谱学因对化学分析最有用，因此被称为化学分析用电子能谱学（Electron Spectroscopy for Chemical Analysis）。
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