Phương pháp phát hiện axit Tungstic

Phương pháp phát hiện axit Tungstic thường thông qua phương pháp hóa học để phát hiện hàm lượng vonfram trong axit tungstic, với phương pháp thử nghiệm chính là kiểm tra phổ, ICP, ICP-MS, ICP-AES và phương pháp trọng lực và các phương pháp khác.

Phương pháp trọng lực: Làm nóng axit tungstic để khử nước và tạo ra vonfram trioxide (WO ₃ ), sau đó chiếm trọng lượng của trioxide vonfram với thang đo và cuối cùng là tính toán vonfram nội dung.

Phương pháp quang phổ đang sử dụng máy dò quang phổ để phát hiện hàm lượng nguyên tố cụ thể của các chất, máy dò quang phổ là máy dò được điều khiển bởi bộ vi xử lý đối xứng khí bán dẫn niêm phong bán dẫn và mạch đọc.

Nguyên lý phát hiện của máy quang phổ plasma kết hợp cảm ứng (ICP-MS): khi các mẫu đi vào ngọn lửa plasma, phần lớn trong số chúng ngay lập tức bị phân hủy thành các nguyên tử và ion bị kích thích. Khi các hạt kích thích này trở lại trạng thái ổn định, chúng cần giải phóng một số năng lượng (phổ phát xạ cho một bước sóng nhất định), xác định đường quang phổ cụ thể cho từng nguyên tố và cường độ, và so sánh với giải pháp tiêu chuẩn, thì chúng ta có thể biết các loại và nội dung của các yếu tố có trong mẫu.

Quang phổ phát xạ nguyên tử plasma kết hợp tự cảm (ICP-AES), còn được gọi là quang phổ phát xạ quang plasma kết hợp tự cảm (ICP-OES), một kỹ thuật phân tích được sử dụng để phát hiện kim loại vi lượng. Đây là một loại quang phổ phát xạ sử dụng plasma kết hợp cảm ứng để tạo ra các nguyên tử và ion bị kích thích phát ra bức xạ điện từ ở bước sóng đặc trưng của một nguyên tố cụ thể. Đây là một kỹ thuật ngọn lửa với nhiệt độ ngọn lửa trong khoảng từ 6000 đến 10000 K. Cường độ phát xạ này cho thấy nồng độ của nguyên tố trong mẫu.