Ácido Tungstico XPS

O ácido tungstico XPS é uma técnica de análise química de superfície, técnica de espectroscopia quantitativa que é usada para testar elementos, fórmula empírica de tungstênio, e também os estados químicos e eletrônicos dos elementos de tungstênio. Os espectros de XPS são obtidos pela irradiação de um material com um feixe de raios-X, medindo simultaneamente a energia cinética e o número de elétrons que escapam do topo de 0 a 10 nm do ácido túngstico analisado. O XPS requer condições de alto vácuo (P ~ 10−8 milibar) ou ultra alto vácuo (UHV; P <10−9 milibar), embora uma área atual de desenvolvimento seja a pressão ambiente XPS, na qual as amostras são analisadas a pressões de um poucas dezenas de milibar.
O XPS pode ser usado para analisar a química da superfície de um material em seu estado como recebido, ou após algum tratamento, por exemplo: fratura, corte ou raspagem no ar ou UHV para expor a química geral, gravação de feixe de íons para limpar alguns ou toda a contaminação da superfície (com gravação iônica suave) ou intencionalmente expor camadas mais profundas da amostra (com gravação de íons mais extensa) na XPS com perfil de profundidade, exposição ao calor para estudar as alterações devido ao aquecimento, exposição a gases ou soluções reativas , exposição ao implante de feixe de íons, exposição à luz ultravioleta.
O XPS também é conhecido como ESCA (Espectroscopia Eletrônica para Análise Química), uma abreviação introduzida pelo grupo de pesquisa de Kai Siegbahn para enfatizar a informação química (ao invés de meramente elementar) que a técnica fornece. Em princípio, o XPS detecta todos os elementos. Na prática, usando fontes típicas de raios X em escala laboratorial, o XPS detecta todos os elementos com um número atômico (Z) de 3 (lítio) e acima. Não é possível detectar facilmente o hidrogênio (Z = 1) ou o hélio (Z = 2).
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