タングステン酸SEM

タングステン酸SEM写真を電子顕微鏡(SEM)をスキャンすることによってタングステン酸の微細構造の走査から形成された画像であり、必要に応じてタングステン酸の表面形態を観察することができます。
走査型電子顕微鏡(SEM)は、電子の集束ビームでそれをスキャンすることにより、試料の画像を生成する電子顕微鏡の一種です。電子は、試料の表面形状や組成についての情報を含む各種信号を生成する、サンプル中の原子と相互作用します。電子ビームは、一般に、ラスタ走査パターンで走査され、ビームの位置は、画像を生成する検出信号と結合されます。SEMは、1ナノメートルよりも優れた分解能を達成することができます。標本は(環境SEM)で濡れた状態で、低真空では、高真空中で観察され、低温または高温の広い範囲にすることができます。