טונגסטי חומצה איתור שיטה
שיטת גילוי חומצה טונגסטית בדרך כלל היא באמצעות שיטה כימית כדי לזהות תוכן של טונגסטן בחומצה טונגסטית, עם שיטת הבדיקה העיקרית של בדיקת ספקטרום, ICP, ICP-MS, ICP-AES ושיטה gravimetric ושיטות אחרות.
השיטה Gravimetric: לקבל את החומצה טונגסטיק חימום להתייבשות וליצור טונגסטן טונגסטן (WO 3 ), ואז לכבוש את המשקל של טונגסטן טונגסטן עם סולם שקילה, ולבסוף לחשב טונגסטן תוכן.
השיטה הספקטראלית משתמשת בגלאי ספקטרוסקופי כדי לזהות תוכן אלמנט מסוים של חומרים, גלאי ספקטרלי הוא הגלאי אשר נשלט על ידי נייחים מוליכים למחצה איטום גז פרופורציונלי הדלפק מיקרו למעגל readout.
ספקטרומטר פלזמה מצמידים באופן אינדוקטיבי (ICP-MS) עקרון גילוי: כאשר דגימות להיכנס הלהבה פלזמה, רובם המכריע של אותם מפורקים מיד לתוך אטומים נרגשים יונים מדינות. כאשר אלה חלקיקים נרגשים חזרה למצב הקרקע יציבה, הם צריכים לשחרר קצת אנרגיה (ספקטרום פליטה עבור אורך גל מסוים), קביעת קו ספקטרלי ספציפי לכל אלמנט וכוח, ובהשוואה לפתרון סטנדרטי, אז אנחנו יכולים לדעת את סוגי תוכן של רכיבים הכלולים במדגם.
פלזמה מצמידים פלזמה אטומי ספקטרוסקופיה (ICP-AES), המכונה גם inductively מצמידים פלזמה ספקטרומטריית פליטה אופטית (ICP-OES), טכניקה אנליטית המשמשת לזיהוי מתכות עקבות. זהו סוג של ספקטרוסקופיה פליטה המשתמשת פלזמה מצמידים inductively לייצר אטומים נרגשים יונים פולטים קרינה אלקטרומגנטית באורכי גל האופייניים אלמנט מסוים. זוהי טכניקת להבה בעלת טמפרטורת להבה בטווח של 6000 עד 10000 ק. עוצמתה של פליטה זו מעידה על ריכוז האלמנט בתוך המדגם.
מוצרים נלווים:
