鎢酸光電子能譜

白钨酸

鎢酸光電子能譜(XPS)是一種表面化學分析技術,用於測定鎢酸中元素構成、實驗式,以及其中所含鎢元素的化學態和電子態的定量能譜技術。通過X射線照射鎢酸,同時測量從鎢酸表面以下1納米到10納米範圍內移除電子的動能和數量,從而得到X射線光電子能譜。X射線光電子能譜技術的環境要求十分苛刻,需要在超高真空環境中進行。

光電子能譜是利用光電效應的原理測量單色輻射從樣品上打出來的光電子的動能(並由此測定其結合能)、光電子強度和這些電子的角分佈,並應用這些資訊來研究原子、分子、凝聚相,尤其是固體表面的電子結構的技術。

XPS的原理是用X射線去輻射樣品,使原子或分子的內層電子或價電子受激發射出來。被光子激發出來的電子稱為光電子。可以測量光電子的能量,以光電子的動能(束縛能,binding energy,Eb=hv光能量-Ek動能-w功函數)為橫坐標,相對強度(脈衝/s)為縱坐標可做出光電子能譜圖,從而獲得試樣有關資訊。X射線光電子能譜學因對化學分析最有用,因此被稱為化學分析用電子能譜學(Electron Spectroscopy for Chemical Analysis)。